Estudo Comparativo da Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado com a Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço
Revista Eletrônica Teccen
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ISSN: 19840993
Editor Chefe: Margareth Maria Queiroz de Carvalho
Início Publicação: 31/12/2007
Periodicidade: Semestral
Estudo Comparativo da Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado com a Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço
Ano: 2010 | Volume: 3 | Número: 1
Autores: Alessandro D. Oliveira, Almir F. Clain
Autor Correspondente: Almir F. Clain | [email protected]
Autor Correspondente: Almir F. Clain | [email protected]
Palavras-chave: Emissão AtoÌ‚mica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado, Fonte de Centelha para AnaÌlise Quantitativa de Aço.
Resumos Cadastrados
Resumo Português:
Este trabalho eÌ um estudo comparativo de anaÌlise de aço de baixa liga empregando duas teÌcnicas de mesmo fundamento baÌsico (excitação de eleÌtrons e emissão de foÌtons caracteriÌsticos), mas que utilizam fontes de excitação diferentes. As teÌcnicas empregadas foram a espectrometria de emissão atoÌ‚mica com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP-AES) e a teÌcnica de espectrometria de emissão oÌtica com fonte de centelha (Spark- AES).Um estudo estatiÌstico comparou a precisão e a exatidão das teÌcnicas. Os outros paraÌ‚metros utilizados na comparação das teÌcnicas foram: a geometria da amostra (sua forma), tipo de amostra, tempos de preparação e anaÌlise e fator de recuperação