Estudo Comparativo da Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado com a Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço

Revista Eletrônica Teccen

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ISSN: 19840993
Editor Chefe: Margareth Maria Queiroz de Carvalho
Início Publicação: 31/12/2007
Periodicidade: Semestral
Área de Estudo: Ciências Agrárias, Área de Estudo: Ciências Exatas, Área de Estudo: Engenharias

Estudo Comparativo da Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado com a Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço

Ano: 2010 | Volume: 3 | Número: 1
Autores: Alessandro D. Oliveira, Almir F. Clain
Autor Correspondente: Almir F. Clain | [email protected]

Palavras-chave: Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado, Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço.

Resumos Cadastrados

Resumo Português:

Este trabalho é um estudo comparativo de análise de aço de baixa liga empregando duas técnicas de mesmo fundamento básico (excitação de elétrons e emissão de fótons característicos), mas que utilizam fontes de excitação diferentes. As técnicas empregadas foram a espectrometria de emissão atômica com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP-AES) e a técnica de espectrometria de emissão ótica com fonte de centelha (Spark- AES).Um estudo estatístico comparou a precisão e a exatidão das técnicas. Os outros parâmetros utilizados na comparação das técnicas foram: a geometria da amostra (sua forma), tipo de amostra, tempos de preparação e análise e fator de recuperação